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便攜大量程超薄高精度鍍層測(cè)厚儀磁阻法測(cè)厚

  • 更新時(shí)間:  2023-05-08
  • 產(chǎn)品型號(hào):  MX-400
  • 簡(jiǎn)單描述
  • 便攜大量程超薄高精度鍍層測(cè)厚儀磁阻法測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)適用不同的側(cè)頭,還可滿足多種測(cè)量需要。本儀器廣泛地用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)優(yōu)選的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn):GB/T 4956-1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量,磁性方法;
詳細(xì)介紹

便攜大量程超薄高精度鍍層測(cè)厚儀磁阻法測(cè)厚儀  JJG818-93《電渦流式測(cè)厚儀》

產(chǎn)品說(shuō)明:它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)適用不同的側(cè)頭,還可滿足多種測(cè)量需要。本儀器廣泛地用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)優(yōu)選的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn):GB/T 4956-1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量,磁性方法;GB/T 4957-1985非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量,渦流方法。JB/T 8393-1996磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)xJJG 889-95《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG818-93《電渦流式測(cè)厚儀》

功能特點(diǎn):

全中文界面操作,更方便;

 本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(:橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等)。

 可使用7 種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)

 具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);

 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B);

 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(SDEV);

 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;

 具有存貯功能:可存貯495 個(gè)測(cè)量值;

 具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;

可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分

析;

可外接熱敏打印機(jī):可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界;

 具有與PC 機(jī)通訊的功能:可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC 機(jī),以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)

一步處理;

 操作過(guò)程有蜂鳴聲提示;

 具有錯(cuò)誤提示功能,通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示;

 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式


基本配置:

主機(jī)

F頭或N標(biāo)準(zhǔn)片一套(50um 100um 200um 500um 1000um

鐵基體或鋁基體

兩節(jié)AA5號(hào))電池

通訊線及數(shù)據(jù)處理軟件

可選探頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02N1

 

便攜大量程超薄高精度鍍層測(cè)厚儀磁阻法測(cè)厚JJG818-93《電渦流式測(cè)厚儀》

 

技術(shù)參數(shù):



測(cè)量原理

磁感應(yīng)和電渦流

測(cè)量范圍

探頭決定

低限分辨力

探頭決定

探頭連接方式

分體式導(dǎo)線連接(可更換)

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

探頭決定

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

探頭決定

測(cè)量條件

最小曲率半徑(mm)

探頭決定

基體最小面積的直徑(mm)

探頭決定

最小臨界厚度(mm)

探頭決定

溫濕度

0~40℃

20%RH~90%RH

統(tǒng)計(jì)功能

平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、

測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)

工作方式

直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

測(cè)量方式

連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)

上下限設(shè)置

存儲(chǔ)能力

495 個(gè)測(cè)量值

打印/連接計(jì)算機(jī)

自帶打印機(jī)/能連接電腦

關(guān)機(jī)方式

手動(dòng)和自動(dòng)

電源

AA(5號(hào))電池

 

涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)表

測(cè)頭型號(hào)

F400

F1

F1/90

F10

N1

CN02

工作原理

磁感應(yīng)

電渦流

測(cè)量范圍(um)

0-400µm

0-1250µm

0-10000µm

0-1250(銅上鍍鉻0-40um)

10-200µm

低限分辨力(um)

0.1

0.1

10

0.1

1

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[3%H+1]

±[3%H+10]

±[3%H+1.5]

±[3%H+1]

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[(1~3)%H+0.7]

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+10]

±[(1~3)%H+1.5]

-

測(cè)量條件

最小曲率半徑(mm)

凸 1

凸1.5

平直

10

2.5

平直

基體最小面積的直徑(mm)

ф3

ф7

ф7

ф40

ф5

ф7

最小臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.5

2

0.3

無(wú)限制

 

覆蓋層

基體

有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)

非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

覆蓋層厚度不超過(guò)100µm 

覆蓋層厚度超過(guò)100µm 

覆蓋層厚度不超過(guò)100µm 

覆蓋層厚度超過(guò)100µm 

鐵、鋼

等磁性金屬

被測(cè)面積的直徑大于30mm

F400 型測(cè)頭 0~400µm

F1 型測(cè)頭 0~1250µm

F1 型測(cè)頭 0~1250µm

F10 型測(cè)頭 0~10mm

F400 型測(cè)頭 0~400µm

F1 型測(cè)頭 0~1250µm

F1 型測(cè)頭 0~1250µm

F10 型測(cè)頭 0~10mm

被測(cè)面積的直徑小于30mm

F400 型測(cè)頭 0~400µm

F400 型測(cè)頭 0~400µm

F1 型測(cè)頭 0~1250µm

F400 型測(cè)頭 0~400µm

F400 型測(cè)頭 0~400µm

F1 型測(cè)頭 0~1250µm

如銅 、鋁 、

黃銅 、鋅 、錫

有色金屬

被測(cè)面積的直徑大于5mm

N1 型測(cè)頭 0~1250µm

僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0~40µm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測(cè)面積的直徑大于7mm

-

-

CN02 型測(cè)頭10~200µm







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